測(cè)CMOS壞點(diǎn)的方法是關(guān)閉機(jī)身抗噪和各種圖像處理功能，鏡頭手動(dòng)對(duì)焦、蓋上鏡頭蓋，用RAW（即尼康的NEF格式）在不同的ISO下拍攝全黑照片，然后拿下鏡頭蓋在一般光線下用長(zhǎng)時(shí)間曝光拍攝全白照片，電腦上轉(zhuǎn)換為TIFF文件，用專門的軟件打開進(jìn)行測(cè)試。

LCD就比較簡(jiǎn)單了，拍攝全黑和全白的圖片，在LCD上查看有無(wú)亮點(diǎn)暗點(diǎn)即可。

新機(jī)除了壞點(diǎn)外，主要還要觀察包裝、封條（尼康的機(jī)器沒有包裝封條）、機(jī)身序列號(hào)和包裝是否對(duì)應(yīng)、細(xì)微的地方有無(wú)灰塵和磨損（比如數(shù)據(jù)線口、鏡頭卡口等），鏡頭有無(wú)進(jìn)灰和拆開的痕跡。另外主要看第一次開機(jī)的時(shí)間設(shè)置畫面，不過(guò)這個(gè)是可以復(fù)位的。另外就是查看EXIF數(shù)據(jù)中的快門次數(shù)值，用光影魔術(shù)手查看拍攝的第一張照片即可。新機(jī)的快門數(shù)不會(huì)是0，但是也不能太大，一般十幾次到幾十次都可能是正常的。